在实际生产中，工件的材料厚度、形状、表面粗糙度等存在差异，这些差异会对实际测量结果造成影响。每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度，大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响，如果试件材料厚度小于仪器所要求的临界厚度，检测结果就会与实际厚度有差别。

　　涂层测厚仪则可以无损地测量磁性金属基体（如钢、铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性涂层的厚度（如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等） 及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上非导电覆层的厚度（如：珐琅、橡胶、油漆、塑料等）。采用了磁性测厚法、可无损伤地测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度（如钢、铁、非奥氏体不锈钢基体上的铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆镀层）。

　　基本工作原理是：当测头与覆盖层接触时，测头和磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过测量其变化可计算覆盖层的厚度。具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产品质量常用的检测仪器，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。

　　涂层测厚仪基体：
　　1.对于本仪器标准基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与待测试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。为了证实标准片的适用性，可用标准片的基体与待测试件基体上所测得的读数进行比较。
　　2.如果待测试件的基体金属厚度没有超过参数表中所规定的临界厚度，可采用下面两种方法进行校准：
　　1）在与待测试件的基体金属厚度相同的金属标准片上校准；
　　2）用一足够厚度的，电学或磁学性质相似的金属衬垫标准片或试件，但必须使基体金属与衬垫金属之间无间隙。对两面有覆盖层的试件，不能采用衬垫法。
　　3.如果待测覆盖层的曲率已达到不能在平面上校准，则有覆盖层的标准片的曲率或置于校准箔下的基体金属的曲率，应与试样的曲率相同。