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涂层测厚仪测试结果受到影响的因素有哪些?
时间:2021-12-15 点击次数:14

  涂层测厚仪采用电磁感应法测量涂(镀)层的厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路,随着探头与铁磁性材料间的距离的改变,该磁回路将不同程度的改变,引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以准确地测量探头与铁磁性材料间的距离,即涂(镀)层厚度。采用磁性测厚法,可以方便无损地测量铁磁材料上非磁性涂层的厚度,如钢铁表面上的锌、铜、铬等镀层或油漆、搪瓷、玻璃钢、喷塑、沥青等涂层的厚度。该仪器广泛应用于机械、汽车、造船、石油、化工、电镀、喷塑、搪瓷、塑料等行业。

涂层测厚仪


  涂层测厚仪校准:
  1.校零
  1.1将探头压在基准块上(或不带涂层的测量物体上),再按一下校零键“ZERO”进行校零。在按“ZERO”键时,测量探头在基准块上不要晃动,且只有在按完“ZERO”键后,才能提起探头,否则,校零不正确。
  1.2将测量探头提起到1厘米以上,然后再将探头以正常的速度压在基准块上(或不带涂层的测量体上),若在同一点的测量值在“0”附近,说明校零成功,否则,应重新校零。
  2.校准校准校准校准
  2.1根据要测量的涂层厚度,选择适当的标准膜片,进行校准。
  2.2先将标准膜片放在基准块上(或不带涂层的测量体上),再将测量探头压在标准膜片上,若显示屏上测量值与标准膜片不同,测量值可通过“+”或“-”键来修正(通过“+”“-”键进行修正时,请提起探头)。
  2.3为保证校准的准确性,可通过多次测量同一标准膜片来验证。
  涂层测厚仪测试结果受到影响的因素:
  基体金属磁化:磁性法测量受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中,低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的)。为了避免热处理、冷加工等因素的影响,应使用与镀件金属具有相同性质的铁基片上对仪器进行校对。
  基体金属厚度:每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度,大于这个厚度测量就不受基体厚度的影响。
  边缘效应:本仪器对试片表面形状的陡变敏感,因此在靠近试片边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
  曲率:试件的曲率对测量有影响,这种影响是随着曲率半径减小明显增大。因此不应在试件超过允许的曲率半径的弯曲面上测量。
  表面粗糙度:基体金属和表面粗糙度对测量有影响。粗糙度增大,影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差。每次测量时,在不同位置上增加测量的次数,克服这种偶然误差。

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